
| 물성 | 기호 | 정하는 것 |
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| 비유전율 | εr | 커패시턴스 · 전파 속도 · 특성 임피던스(characteristic impedance) |
| 유효 비유전율 | εeff | 실제 구조에서의 값 — 장이 지나는 매질의 평균 |
| 손실 탄젠트 | tanδ | 유전체가 열로 바꾸는 몫 |
전기력선이 여러 매질을 지나면 실제 값은 그 사이가 된다.
| 구조 | εeff |
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| 스트립라인 | 재료값에 가깝다 — 전부 유전체 안이다 |
| 마이크로스트립(microstrip) | 재료값보다 작다 — 일부가 공기를 지난다 |
| 접지 코플래너(CPWG) | 사이 값 — 옆 접지와의 관계가 정한다 |
같은 재료라도 구조에 따라 속도가 다르다. 층을 바꾸면 지연이 달라지는 근거다.
일반적인 적층판은 유리 섬유를 짠 천에 수지를 먹인 것이다. 유리와 수지의 유전율이 달라 국부적인
값이 자리마다 다르다.
| 결과 | 내용 |
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| 배선(routing) 위치에 따라 속도가 달라진다 | 차동 쌍(differential pair) 안에서 스큐가 생긴다 |
| 짜임이 촘촘할수록 편차가 작다 | 고속·고주파에서 촘촘한 직물을 고른다 |
| 배선을 비스듬히 두면 평균화된다 | 실무에서 쓰는 대책 |
| 물성 | 정하는 것 |
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| 두께 | 직류 저항 · 측면 형상 · 임피던스에 조금 영향 |
| 표면 조도 | 고주파 도체 손실 |
| 결정 구조 | 굽힘 내성 · 접착력 |

주파수가 오르면 전류가 표면 두께 안으로 몰린다(표피 효과 · skin effect). 표면이 거칠면 전류가 그
굴곡을 따라 흐르며 경로가 길어지고, 그만큼 저항이 늘어난다.
| 조건 | 결과 |
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| 표피 깊이 ≫ 거칠기 | 조도의 영향이 작다 |
| 표피 깊이 ≈ 거칠기 | 영향이 급격히 커진다 |
| 표피 깊이 ≪ 거칠기 | 손실이 크게 늘어난다 |
조도는 접착력과 맞바꾼다. 매끈한 동박은 손실이 적지만 유전체와의 접착이 약해, 그 사이를 메우는
처리 기술이 함께 필요하다.
εr 과 tanδ 는 상수가 아니다. 주파수에 따라 변한다.
| 현상 | 내용 |
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| 분산(dispersion) | 주파수마다 속도가 다르다 — 파형이 퍼진다 |
| 유전 완화 | 분자의 반응이 주파수를 따라가지 못한다 |
| 인과성 | εr 과 tanδ 는 서로 묶여 있다 — 하나만 상수로 두면 물리적으로 성립하지 않는다 |
| 계통 | 성질 | 쓰는 곳 |
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| 일반 적층판 | 손실이 크다 · 값이 싸다 · 편차가 크다 | 저속 · 일반 회로 |
| 저손실 적층판 | 손실이 작다 · 값의 안정성이 높다 | 고속 디지털 |
| 불소 수지 계열 | 손실이 매우 작다 · 유전율이 낮다 · 가공이 까다롭다 | 고주파 · 마이크로파 |
| 세라믹 충전 | 유전율이 높고 안정하다 | 소형화가 필요한 고주파 |
| 혼합 스택업(stackup) | 층마다 다른 재료 | 비용과 성능의 절충 |
혼합 스택업은 열팽창 차이 때문에 제작사와의 사전 합의가 필수다. 층 배치가 대칭이 아니면 휨이
생긴다.
| 물성 | 왜 보는가 |
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| 유리 전이 온도 | 무연 납땜 온도에서 재료가 변형되지 않아야 한다 |
| 열팽창 계수 | 구리와 차이가 크면 비아(via)에 응력이 쌓인다 |
| 흡습률 | 수분이 들어오면 εr 과 tanδ 가 함께 올라간다 |
| 열전도율 | 전력 소자의 열 경로 |
| 난연 등급 | 안전 규격 |
| 순서 | 하는 일 |
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| 1 | 동작 대역의 상단을 정한다 |
| 2 | 그 주파수에서의 총 손실 예산을 계산한다 |
| 3 | 손실 예산을 만족하는 계통을 고른다 |
| 4 | 유전율 안정성과 짜임을 확인한다 |
| 5 | 동박 조도 등급을 정한다 |
| 6 | 제작사가 실제로 보유한 조합인지 확인한다 |
| 7 | 열·기계 물성이 공정과 사용 조건을 만족하는지 확인한다 |
마지막 두 단계에서 자주 막힌다. 데이터시트에 있는 조합이 제작사 재고에 없거나 리드 타임이 길면
설계를 되돌려야 한다.